Сканирующий электронный микроскоп SEM S-3400N Производитель: Hitachi (Япония)
Назначение:
исследование структуры и элементного химического состава материалов с использованием сканирующей электронной микроскопии;
оснащение приставкой энергодисперсионного анализа EDX Thermo, позволяет определять химический состав материалов с построением карт распределения элементов от Ве4 до U92.