Сканирующий электронный микроскоп SEM S-3400N Производитель: Hitachi (Япония)
Назначение:
исследование структуры и элементного химического состава материалов с использованием сканирующей электронной микроскопии;
оснащение приставкой энергодисперсионного анализа EDX Thermo, позволяет определять химический состав материалов с построением карт распределения элементов от Ве4 до U92.
Характеристики:
Максимальное увеличения х300000;
Минимальный размер пучка электронов 3 нм.
Для улучшения работы сайта и его взаимодействия с пользователями мы используем файлы cookie. Продолжая работу с сайтом, Вы соглашаетесь с политикой обработки персональных
данных. Подробнее.